|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature-dependent study of slow traps generation mechanism in HfO2/GeON/Ge(1 1 0) metal oxide semiconductor devices |
| Auteur: |
Agrawal, Khushabu Patil, Vilas Barhate, Viral Yoon, Geonju Lee, Youn-Jung Mahajan, Ashok Yi, Junsin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 167 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| << vorige |