|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Severe hump phenomenon induced by increased charge trapping and suppression of electron capture effect in amorphous In-Ga-Zn-O thin-film transistors under unipolar pulsed drain bias with static positive gate bias stress |
| Auteur: |
Kim, Yongjo Ha, Tae-Kyoung Cho, Yong-Jung Kang, Yun-Seong Yu, SangHee Kim, GwangTae Jeong, Hun Park, Jeong Ki Kim, Ohyun |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 167 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |