|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Characteristic function approach to analytical parameter extraction, verification, and circuit calibration for small-signal equivalent circuit of field effect transistors |
| Auteur: |
Huang, F.Y. Wei, Z.N. Zhang, Y.M. Tang, X.S. Jiang, N. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 165 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |