|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Using yield to predict long-term reliability of integrated circuits: Application of Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov model |
| Auteur: |
Suhir, E. Stamenkovic, Z. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 164 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |