|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of memory effect with voltage or current charging pulse bias in MIS structures based on codoped Si-NCs embedded in SiO2 or HfOx |
| Auteur: |
Mazurak, Andrzej Mroczyński, Robert |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 159 (2019) nr. C pagina's 157-164 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |