|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrostatic Coupling and Identification of Single-Defects in GaN/AlGaN Fin-MIS-HEMTs |
| Auteur: |
Grill, A. Stampfer, B. Im, Ki-Sik Lee, J.-H. Ostermaier, C. Ceric, H. Waltl, M. Grasser, T. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 156 (2019) nr. C pagina's 41-47 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |