|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation on dependency mechanism of inverter voltage gain on current level of photo stressed depletion mode thin-film transistors |
| Auteur: |
Lee, Byeong Hyeon Kim, Sangsig Lee, Sang Yeol |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 156 (2019) nr. C pagina's 5-11 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |