|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
The influence of grain boundary interface traps on electrical characteristics of top select gate transistor in 3D NAND flash memory |
| Auteur: |
Zou, Xingqi Jin, Lei Yan, Liang Zhang, Yu Ai, Di Zhao, Chenglin Xu, Feng Li, Chunlong Huo, Zongliang |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 153 (2019) nr. C pagina's 67-73 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 18 gevonden artikelen
| << vorige |