|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Low-frequency noise measurements at liquid helium temperature operation in ultra-thin buried oxide transistors – Physical interpretation of transport phenomena |
| Auteur: |
Nafaa, B. Cretu, B. Ismail, N. Touayar, O. Carin, R. Simoen, E. Veloso, A. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 150 (2018) nr. C pagina's 1-7 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |