|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical modeling of metal gate granularity based threshold voltage variability in NWFET |
| Auteur: |
Harsha Vardhan, P. Mittal, Sushant Ganguly, Swaroop Ganguly, Udayan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 147 (2018) nr. C pagina's 26-34 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 12 gevonden artikelen
| volgende >> |