|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Hot-carrier-induced current capability degradation and optimization for lateral IGBT on thick SOI substrate |
| Auteur: |
Zhang, Chunwei Li, Yang Yue, Wenjing Fu, Xiaoqian Li, Zhiming |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 145 (2018) nr. C pagina's 34-39 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |