|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Detailed characterisation of Si Gate-All-Around Nanowire MOSFETs at cryogenic temperatures |
| Auteur: |
Boudier, D. Cretu, B. Simoen, E. Veloso, A. Collaert, N. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 143 (2018) nr. C pagina's 27-32 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |