|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Second Harmonic Generation characterization of SOI wafers: Impact of layer thickness and interface electric field |
| Auteur: |
Damianos, D. Vitrant, G. Lei, M. Changala, J. Kaminski-Cachopo, A. Blanc-Pelissier, D. Cristoloveanu, S. Ionica, I. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 143 (2018) nr. C pagina's 90-96 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |