|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Leakage characterization of top select transistor for program disturbance optimization in 3D NAND flash |
| Auteur: |
Zhang, Yu Jin, Lei Jiang, Dandan Zou, Xingqi Zhao, Zhiguo Gao, Jing Zeng, Ming Zhou, Wenbin Tang, Zhaoyun Huo, Zongliang |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 141 (2018) nr. C pagina's 18-22 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |