Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
 
 
  Normally-off Al2O3/GaN MOSFET: Role of border traps on the device transport characteristics
 
 
Titel: Normally-off Al2O3/GaN MOSFET: Role of border traps on the device transport characteristics
Auteur: Wang, Hongyue
Wang, Jinyan
Liu, Jingqian
He, Yandong
Wang, Maojun
Yu, Min
Wu, Wengang
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 141 (2018) nr. C pagina's 13-17
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland