|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
A drain current model for amorphous InGaZnO thin film transistors considering temperature effects |
| Auteur: |
Cai, M.X. Yao, R.H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 141 (2018) nr. C pagina's 23-30 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
| volgende >> |