|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Universal model of bias-stress-induced instability in inkjet-printed carbon nanotube networks field-effect transistors |
| Auteur: |
Jung, Haesun Choi, Sungju Jang, Jun Tae Yoon, Jinsu Lee, Juhee Lee, Yongwoo Rhee, Jihyun Ahn, Geumho Yu, Hye Ri Kim, Dong Myong Choi, Sung-Jin Kim, Dae Hwan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 140 (2018) nr. C pagina's 80-85 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 28 gevonden artikelen
| << vorige |