|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of well flat band condition in thin film FDSOI transistors using C-V measurement for accurate parameter extraction |
| Auteur: |
Mohamad, B. Leroux, C. Reimbold, G. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 139 (2018) nr. C pagina's 88-93 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |