|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Self-Heating Effects on vertical FET according to Shallow Trench Isolation |
| Auteur: |
Myeong, Ilho Son, Dokyun Kim, Hyunsuk Kang, Myounggon Shin, Hyungcheol |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 137 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |