|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability improvement in GaN HEMT power device using a field plate approach |
| Auteur: |
Wu, Wen-Hao Lin, Yueh-Chin Chin, Ping-Chieh Hsu, Chia-Chieh Lee, Jin-Hwa Liu, Shih-Chien Maa, Jer-shen Iwai, Hiroshi Chang, Edward Yi Hsu, Heng-Tung |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 133 (2017) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |