|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature and field dependences of the generation-recombination noise and the thermal emission rates at the gold acceptor center in silicon |
| Auteur: |
Yau, L.D. Sah, C.T. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 13 (1970) nr. 9 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1970 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |