|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray measurement of elastic strain and annealing in semiconductors |
| Auteur: |
Cohen, B.G. Focht, M.W. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 2 pagina's 105-106, IN1, 107-112 |
| Jaar: |
1970 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 19 gevonden artikelen
| << vorige |