|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeled optical properties of SiGe and Si layers compared to spectroscopic ellipsometry measurements |
| Auteur: |
Kriso, C. Triozon, F. Delerue, C. Schneider, L. Abbate, F. Nolot, E. Rideau, D. Niquet, Y.-M. Mugny, G. Tavernier, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 129 (2017) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |