|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and modelling of layout effects in SiGe channel pMOSFETs from 14nm UTBB FDSOI technology |
| Auteur: |
Berthelon, R. Andrieu, F. Ortolland, S. Nicolas, R. Poiroux, T. Baylac, E. Dutartre, D. Josse, E. Claverie, A. Haond, M. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 128 (2017) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |