|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliable gate stack and substrate parameter extraction based on C-V measurements for 14nm node FDSOI technology |
| Auteur: |
Mohamad, B. Leroux, C. Rideau, D. Haond, M. Reimbold, G. Ghibaudo, G. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 128 (2017) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |