|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
An in-depth analysis of temperature effect on DIBL in UTBB FD SOI MOSFETs based on experimental data, numerical simulations and analytical models |
| Auteur: |
Pereira, A.S.N. de Streel, G. Planes, N. Haond, M. Giacomini, R. Flandre, D. Kilchytska, V. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 128 (2017) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 31 gevonden artikelen
| volgende >> |