|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of impact of post-metallization annealing on reliability of 65nm NOR floating-gate flash memories |
| Auteur: |
Chiu, Shengfen Xu, Yue Ji, Xiaoli Yan, Feng |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 126 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |