|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| Titel: |
Lumped model analysis of the low frequency generation noise in gold-doped silicon junction-gate field-effect transistors |
| Auteur: |
Fu, H.S. Sah, C.T. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 12 (1969) nr. 8 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1969 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 6 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |