|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A review of the mechanical stressors efficiency applied to the ultra-thin body & buried oxide fully depleted silicon on insulator technology |
| Auteur: |
Morin, Pierre Maitrejean, Sylvain Allibert, Frederic Augendre, Emmanuel Liu, Qing Loubet, Nicolas Grenouillet, Laurent Pofelski, Alexandre Chen, Kangguo Khakifirooz, Ali Wacquez, Romain Reboh, Shay Bonnevialle, Aurore le Royer, Cyrille Morand, Yves Kanyandekwe, Joel Chanemougamme, Daniel Mignot, Yann Escarabajal, Yann Lherron, Benoit Chafik, Fadoua Pilorget, Sonia Caubet, Pierre Vinet, Maud Clement, Laurent Desalvo, Barbara Doris, Bruce Kleemeier, Walter |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 117 (2016) nr. C pagina's 17 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |