|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 22nm node pMOSFETs |
| Auteur: |
Wang, Guilei Moeen, M. Abedin, A. Xu, Yefeng Luo, Jun Guo, Yiluan Qin, Changliang Tang, Zhaoyun Yin, Haizhou Li, Junfeng Yan, Jiang Zhu, Huilong Zhao, Chao Chen, Dapeng Ye, Tianchun Kolahdouz, M. Radamson, Henry H. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 114 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |