|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of off-state leakage mechanisms in GaN-based MIS-HEMTs: Experimental data and numerical simulation |
| Auteur: |
Marino, F.A. Bisi, D. Meneghini, M. Verzellesi, G. Zanoni, E. Van Hove, M. You, S. Decoutere, S. Marcon, D. Stoffels, S. Ronchi, N. Meneghesso, G. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 113 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |