|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Low temperature characterization of mobility in 14nm FD-SOI CMOS devices under interface coupling conditions |
| Auteur: |
Shin, Minju Shi, Ming Mouis, Mireille Cros, Antoine Josse, Emmanuel Kim, Gyu-Tae Ghibaudo, Gérard |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 108 (2015) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |