|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of processing and back-gate biasing conditions on the low-frequency noise of ultra-thin buried oxide silicon-on-insulator nMOSFETs |
| Auteur: |
Kudina, V. Garbar, N. Simoen, E. Claeys, C. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 105 (2015) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |