|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and modeling of electrical stress degradation in STI-based integrated power devices |
| Auteur: |
Reggiani, Susanna Barone, Gaetano Gnani, Elena Gnudi, Antonio Baccarani, Giorgio Poli, Stefano Wise, Rick Chuang, Ming-Yeh Tian, Weidong Pendharkar, Sameer Denison, Marie |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 102 (2014) nr. C pagina's 17 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |