|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Optical thickness measurement of SiO2Si3N4 films on silicon |
| Auteur: |
Reizman, F. van Gelder, W. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (1967) nr. 7 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
1967 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |