|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 55 gevonden artikelen
| Titel: |
RHEED intensities from two-dimensional heteroepitaxial nanoscale systems of GaN on a Si surface |
| Auteur: |
Daniluk, Andrzej |
| Verschenen in: |
Computer physics communications |
| Paginering: | Jaargang 207 (2016) nr. C pagina's 536-538 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 55 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |