|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 96 van 107 gevonden artikelen
| Titel: |
Ultrafast electron microscopy: Instrument response from the single-electron to high bunch-charge regimes |
| Auteur: |
Plemmons, Dayne A. Flannigan, David J. |
| Verschenen in: |
Chemical physics letters |
| Paginering: | Jaargang 683 (2017) nr. C pagina's 186-192 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 96 van 107 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |