|
In situ structural characterization of picene thin films by X-ray scattering: Vacuum versus O 2 atmosphere |
|
|
|
Titel: |
In situ structural characterization of picene thin films by X-ray scattering: Vacuum versus O 2 atmosphere |
Auteur: |
Hosokai, T. Hinderhofer, A. Vorobiev, A. Lorch, C. Watanabe, T. Koganezawa, T. Gerlach, A. Yoshimoto, N. Kubozono, Y. Schreiber, F. |
Verschenen in: |
Chemical physics letters |
Paginering: |
Jaargang 544 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
Jaar: |
2012 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|