|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Improvement of electromigration reliability and diffusion of Cu films using coherent Cu(111)/Cr2O3(0001) interfaces |
| Auteur: |
Xiao, M.X. Zhao, M. Lang, X.Y. Zhu, Y.F. Jiang, Q. |
| Verschenen in: |
Chemical physics letters |
| Paginering: | Jaargang 542 (2012) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |