|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profile analysis of organic multi-layer device with nanometer resolution using surface-enhanced Raman spectroscopy |
| Auteur: |
Muraki, Naoki Miyamoto, Takashi Yoshikawa, Masanobu |
| Verschenen in: |
Chemical physics letters |
| Paginering: | Jaargang 499 (2010) nr. 1-3 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |