|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy investigation of the surface topography and adhesion of nickel nanoparticles to submicrospherical silica |
| Auteur: |
Ramesh, S Cohen, Y Aurbach, D Gedanken, A |
| Verschenen in: |
Chemical physics letters |
| Paginering: | Jaargang 287 (1998) nr. 3-4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |