|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 94 gevonden artikelen
| Titel: |
Ellipsometric study of refractive index anisotropy in porous silicon |
| Auteur: |
Krzyżanowska, H. Kulik, M. Żuk, J. |
| Verschenen in: |
Journal of luminescence |
| Paginering: | Jaargang 80 (1998) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 94 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |