![]() |
Digital Library |
|
|||||||||||||||||||||||||||
Close | Browse articles from a journal | ||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
|||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
|||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
|||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
|||||||||||||||||||||||||||||
Details for article 25 of 52 found articles
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Impact of intrinsic defects on excitation dependent carrier lifetime in thick 4H-SiC studied by complementing microwave photoconductivity, free-carrier absorption and time-resolved photoluminescence techniques |
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Details for article 25 of 52 found articles
|
|||||||||||||||||||||||||||||
|
|||||||||||||||||||||||||||||
Koninklijke Bibliotheek - National Library of the Netherlands |