|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 137 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect study of MOVPE-grown InGaP layers on GaAs |
| Auteur: |
Knauer, A. Krispin, P. Balakrishnan, V.R. Weyers, M. |
| Verschenen in: |
Journal of crystal growth |
| Paginering: | Jaargang 272 (2004) nr. 1-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 137 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |