|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of optical constants and thickness of passivating films on nickel from multiple-angle-of-incidence reflectivity measurements |
| Auteur: |
Ohtsuka, T. Schoner, K. Heusler, K.E. |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 93 (1978) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Sequoia S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |