|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 71 gevonden artikelen
| Titel: |
Double layer effects in voltammetric measurements with scanning electrochemical microscopy (SECM) |
| Auteur: |
Tan, Sze-yin Perry, David Unwin, Patrick R. |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 819 () nr. C pagina's 240-250 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 71 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |