|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of growth of anodic antimony oxide films by ellipsometry and XPS |
| Auteur: |
Linarez Pérez, Omar E. Sánchez, Miguel D. López Teijelo, Manuel |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 645 (2010) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |