|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of defects in the formation process of self-assembled thiol monolayers by electrochemical impedance spectroscopy |
| Auteur: |
Diao, Peng Guo, Min Tong, Ruting |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 495 (2001) nr. 2 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |