|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ ellipsometry and SHG measurements of the growth of CdS layers on Cd x Hg1−x Te |
| Auteur: |
Wark, A. Berlouis, L.E.A. Jackson, F. Lochran, S. Cruickshank, F.R. Brevet, P.F. |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 435 (1997) nr. 1-2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |