|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
The scanning microscope for semiconductor characterization (SMSC): Comparative study of the influence of surface defects on the photoelectrochemical behavior of n-WSe2 and n-MoSe2 layered compounds |
| Auteur: |
Chaparro, A.M. Salvador, P. Mir, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electroanalytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 411 (1996) nr. 1-2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |