Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
 
  The scanning microscope for semiconductor characterization (SMSC): Comparative study of the influence of surface defects on the photoelectrochemical behavior of n-WSe2 and n-MoSe2 layered compounds
 
 
Titel: The scanning microscope for semiconductor characterization (SMSC): Comparative study of the influence of surface defects on the photoelectrochemical behavior of n-WSe2 and n-MoSe2 layered compounds
Auteur: Chaparro, A.M.
Salvador, P.
Mir, A.
Verschenen in: Journal of electroanalytical chemistry
Paginering: Jaargang 411 (1996) nr. 1-2 pagina's 7 p.
Jaar: 1996
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science S.A. All rights reserved
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland